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学术新闻

电 话:025-83596545 (现代分析中心能谱室)
邮 箱: gaofei@nju.edu.cn
地 址:江苏省南京市栖霞区仙林大道163号

重点实验室孙敬方、仝庆等老师成果入选中国仪器仪表学会科研仪器优秀案例

      近期,由中国科学技术协会委托、中国仪器仪表学会组织的2024年度优秀科研仪器案例评审结果公示,全国共遴选认定100项优秀案例。南京大学《不稳定性粉末样品的 XRD 制样与测试》《金相螺旋相差显微模块的研制及应用》2项成果成功入选。

获奖证书

案例不稳定性粉末样品的XRD制样与测试

X射线衍射(XRD)测试领域,空气敏感样品(如有机半导体、钙钛矿、锂电材料及高活性药物分子等)常因测试过程中的长时间暴露而面临潮解、氧化等问题,不仅导致数据失真,部分毒化样品还会危害检测人员安全。本案例创新性地提出“Kapton薄膜+PMMA样品架封装技术,巧妙攻克了这一难题。该技术借助Kapton薄膜卓越的气密性,实现对不稳定样品的高效空气隔绝。搭配PMMA样品架及卡环设计,进一步确保样品在测试全程的稳定封装。经多次实验优化,选用40μm厚的Kapton薄膜,在保障空气隔绝效果的同时,最大限度减少对X射线的吸收,有效避免因物理遮挡造成的信号衰减,确保测试数据的精准可靠。此外,所所选取的Kapton薄膜本身还具备抗拉伸、热稳定性和化学稳定性等优势,使该封装方法不仅适用于常规XRD测试,更能轻松应对变温、气氛等复杂条件下的原位XRD测试。凭借低成本、强普适性的特点,该技术已在多种科研和企业样品测试中得到应用推广,为提升不稳定性材料的表征精度及实验可靠性提供了创新性的解决方案。


案例金相螺旋相差显微模块的研制及应用

物理学院纳米加工与技术表征中心仪器研发团队成功研制出一种新型金相螺旋相差显微镜。该显微镜成像原理基于最新的径向希尔伯特变换滤波技术,采用模块化应用设计方案,实现半导体芯片的导电粒子检测及缺陷取向性检测功能。

该技术设备绕开进口产品的相差实现方式,另辟蹊径实现超越原有技术的显微功能,极大的促进微纳显微领域的研究及应用,未来在对芯片检测和金相试样观测中具有广泛的应用前景。

近年来,南京大学深入贯彻落实“双一流”和“第一个南大”建设目标要求,积极推动实验技术创新,引导面向前沿科技发掘设备技术效能,促进设备原始创新研制、新功能开发及新方法研究。此次2项成果入选中国仪器仪表学会2024年度优秀科研仪器案例,不仅是对我校科研创新实力的肯定,更是我校在实验技术领域深耕细作的成果展现。学校将继续秉持创新精神,加强科研平台建设,优化科研资源配置,为学校高质量发展提供坚实支撑,助力我国实验技术领域迈向更高水平。(稿件来源:https://mp.weixin.qq.com/s/j3MXaQiNQ7HS_hUTGmnwcg

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